Tarjeta de protección de prueba M.2 M-key macho a M.2 M-key hembra

Tarjeta de protección de prueba M.2 M-key macho a M.2 M-key hembra

La tarjeta de protección de prueba M.2 M-key macho a M.2 M-key hembra es un adaptador de interfaz de paso especializado diseñado para pruebas de hardware, validación y desarrollo de sistemas en entornos de almacenamiento y computación. Esta tarjeta de protección de prueba proporciona una interfaz de conexión duradera y repetible entre una ranura host M.2 M-key y dispositivos SSD NVMe M.2 M-key, lo que permite procedimientos de prueba fiables a la vez que protege los costosos sistemas host y componentes del desgaste y los daños durante los ciclos de prueba repetidos. La tarjeta conecta un conector M.2 M-key macho en un extremo con un conector M.2 M-key hembra en el otro, compatible con el factor de forma M.2 2280 estándar con paso completo de todos los carriles PCIe. Diseñada para una integridad de señal de alta frecuencia, admite velocidades de datos PCIe 5.0 de hasta 32 GT/s por carril con control de impedancia diferencial de 85 ohmios. La tarjeta cuenta con contactos chapados en oro de 50 μ para una mayor durabilidad y transmisión de señal, con soldadura robusta y construcción de PCB diseñada para más de 10 000 ciclos de inserción. Esta solución es ideal para ingenieros de hardware, equipos de control de calidad, plantas de fabricación y laboratorios de I+D que requieren pruebas y validación fiables y repetibles de unidades SSD M.2 NVMe.

Características

• Adaptador M.2 M-key macho a hembra: cuenta con un conector M.2 M-key macho en el lado del host y un conector M.2 M-key hembra en el lado del dispositivo, lo que proporciona una ruta eléctrica directa y sin obstáculos para capacidades de prueba integrales.
• Compatibilidad total con NVMe y PCIe: Ofrece compatibilidad total con el paso directo de carriles PCIe x4, lo que garantiza una compatibilidad completa con las unidades SSD NVMe y todos los protocolos PCIe. Admite velocidades de datos PCIe 5.0 de hasta 32 GT/s por carril.
• Durabilidad del ciclo de inserción: Diseñado para aplicaciones de pruebas de alta durabilidad, con soldadura robusta y construcción de PCB que proporciona un contacto estable y fiable a través de conexiones y desconexiones repetidas, lo que prolonga significativamente la vida útil de la ranura M.2 de la placa base.
• Contactos chapados en oro de 50 μ: Incorpora contactos chapados en oro de 50 μ de espesor que superan los estándares de la industria, mejorando el rendimiento de la transmisión, garantizando una mayor durabilidad y vida útil, y proporcionando una resistencia superior a la corrosión para entornos de prueba exigentes.
• Integridad de señal mejorada: El diseño de PCB de ingeniería de precisión con control de impedancia diferencial de 85 ohmios y enrutamiento de pistas optimizado mantiene la calidad de la señal a altas frecuencias, lo que garantiza resultados de prueba fiables.
• Factor de forma M.2 2280: El diseño estándar del factor de forma M.2 2280 garantiza la compatibilidad con una amplia gama de dispositivos de prueba y configuraciones de sistema, lo que permite una fácil integración en las configuraciones de prueba existentes.
• Función de protección durante las pruebas: Actúa como una interfaz de sacrificio que absorbe el desgaste durante las pruebas, protegiendo la valiosa ranura M.2 de la placa base contra daños y reduciendo los costes de mantenimiento.
• Instalación Plug-and-Play: No requiere controladores ni configuración de software adicionales, lo que permite una integración perfecta con los principales sistemas operativos y entornos de prueba.

Presupuesto

• Modelo de producto: Tarjeta de protección de prueba M.2 M-key macho a M.2 M-key hembra
• Interfaz de host: M.2 M-key macho
• Interfaz de destino: M.2 M-key hembra
• Factor de forma: M.2 2280
• Velocidad de transferencia de datos: hasta 32 GT/s (PCIe 5.0)
• Protocolos compatibles: NVMe 2.0/1.4, PCI Express 5.0/4.0/3.0/2.0/1.0
• Impedancia: 85 ohmios (diferencial)
• Recubrimiento de los contactos: contactos chapados en oro de 50 μ
• Durabilidad del ciclo de inserción: Más de 10.000 ciclos
• Material de la placa de circuito impreso: Placa de circuito impreso de alta frecuencia y bajas pérdidas
• Temperatura de funcionamiento: de 0 °C a +70 °C

Aplicaciones

• Pruebas y validación de hardware: Permiten realizar pruebas y validaciones fiables de las unidades SSD M.2 NVMe en entornos de desarrollo de hardware, protegiendo así los valiosos sistemas anfitriones del desgaste y los daños.
• Control de calidad y fabricación: Apoyo a las pruebas en línea de producción de unidades SSD M.2 NVMe, proporcionando conexiones consistentes y repetibles para los procedimientos de control de calidad y reduciendo los costes de mantenimiento de los dispositivos de prueba.
• Laboratorios de I+D: Facilitan la investigación y el desarrollo de tecnologías de almacenamiento, proporcionando una interfaz fiable para la evaluación de componentes y las pruebas de integración de sistemas.
• Pruebas de integración del sistema: Permiten una validación integral a nivel de sistema de las soluciones de almacenamiento M.2 NVMe en entornos informáticos complejos.
• Desarrollo de placas base y sistemas: Apoyo al desarrollo y las pruebas de interfaces M.2 en diseños de placas base y sistemas, proporcionando un punto de conexión controlado para el análisis de señales.
• Servicio técnico y resolución de problemas: Permite a los técnicos de campo probar las ranuras M.2 y las unidades SSD sin riesgo de dañar los sistemas de los clientes.
• Formación y capacitación: Apoyo a la instrucción en técnicas de prueba y validación de hardware, proporcionando una interfaz duradera y reutilizable para fines de capacitación.
• Integración de dispositivos de prueba: Constituye un componente fundamental en dispositivos de prueba personalizados y sistemas de prueba automatizados para pruebas de SSD M.2 de alto volumen.

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